炭化ケイ素
半導体の特徴の把握
ラマンを使用すると、あらゆる半導体(Si、カーボンベース、III-V族、ポリマーなど)や超伝導体の特徴を把握して、イメージを生成できます。これにより、次のように広範な情報を解明できます。- 化学的組成(化合物半導体の合金の割合率など)
- ポリタイプ(4H-SiC や 6H-SicC など)
- 歪み/応力
- ドーパント濃度
- 薄膜の膜厚
- 結晶構造のタイプと向き
- 結晶品質
- 均一性と純度
- デバイスの温度
簡単な分析
ラマン分析は、サンプルの準備が不要なので非常に簡単です。また、真空技術や、電子顕微鏡に付きまとう電荷の影響に悩まされることもありません。
レニショーでは、科学研究者から技術者まで、あらゆるユーザーに合わせてラマンシステムを構成できます。
広い領域の分析
レニショーのラマンシステムは非常に大きなサンプルでも分析可能です。例えば、ウェハー全体のイメージを生成して、コンタミネーションや残留応力を確認できます。
PL の特徴を把握
レニショーのラマンシステムでは、フォトルミネセンス分光(PL)のスペクトルの取得および分析も可能です。この 1 台で振動情報と電子情報の両方を収集することができます。
オンラインシステム
レニショーのラマンシステムを製造ラインに追加することで、品質保証のためのオンライン分析を行うことが可能です。問題を早期に診断し、むだを低減し、歩留まりを改善しきます。
信頼性の高い結果
レニショーのラマンシステムにより、サンプルを正確に表現する再現性の高いデータが得られます。さらに、内蔵の自動校正とヘルスチェック機能により、いつ収集したデータでも、正確に比較できます。
詳細情報
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アプリケーションノート: inVia ラマンマイクロスコープによる 炭化ケイ素(SiC)の分析
炭化ケイ素の特性はその結晶構造(各種のポリタイプが存在)、結晶の質、内部の欠陥の数とタイプに応じて大きく変化します。炭化ケイ素の原材料とデバイスの製造業者が歩留まりを増加するためには、これらの特性をモニターしながらコントロールする必要があります。
『Compound Semiconductor』誌の参考記事
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News release: Identifying imperfections with Raman spectroscopy [en]
An article in Compound Semiconductor magazine, October 2015, describes how Raman spectroscopy allows routine mapping of SiC wafers in little more than an hour.
詳細について
レニショーの inVia により信頼性と再現性の高い結果を取得する方法についてご説明しますので、レニショー株式会社までお問い合わせください。