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ラマン- SPM/AFM 複合システム

inVia の分析能力をスキャニングプローブマイクロスコープ(SPM や AFM)に統合すると、材料の構成、構造、特性をナノメートル単位で調べることができます。

最適なシステムをお選びください

非常にフレキシブルなレニショー inVia は、次のように多くのメーカーの AFM および SPM に直接組み合わせることができます。

  • Bruker Nano Surfaces
  • Nanonics
  • NT-MDT
  • JPK
  • Park

ニーズに合わせて最良の SPM/AFM をお選びください。

TERS:チップ増強ラマン散乱

一部の inVia-AFM システムでは、チップ増強ラマン散乱が可能です。この素晴らしい技術は、シャープななプラズモンチップを使用してナノメートル単位の化学情報を取得します。

TERS マッピングは、StreamLine™StreamHR™ を補足し、様々な分解能でフレキシブルなサンプルの研究が可能です。

最大効率を得る

inVia を SPM/AFM に組み合わせる上で、レニショー特別設計のフレキシブルアームが使用できます。これはミラーで光を反射させるため、光ファイバーカップリングよりも高い効率が得られます。それにより、S/N を向上し、スペクトルを高速で取得することができます。

位置合わせも簡単です。すべての複合システムには観察カメラ(白色光照明)が内蔵されているため、TERS 測定で不可欠な条件となる、プローブ先端とラマンのレーザースポットを同時に明確に確認することができます。

同時に、同じ位置で

データに対する信頼性が得られます。ラマンと AFM データは、サンプルを移動させる必要なく、同じ位置で同時に取得することができます。これにより、時間の経過と共にサンプルが変化する場合でも、一貫したデータが得られます。

1 台の複合システムで複数の役割

同時に分析も可能なので、システム間でサンプルを移動し、同じポイントを探す労力は必要ありません。

inVia と SPM/AFM は、両装置のパフォーマンスを損なうことなく、2 人のユーザーが個別に同時に操作できます。ユーザーはラマンシステム、SPM/AFM システム、ラマン-SPM/AFM 複合システムを手に入れる事になります。

最適なシステムをお選びください

レニショーのエキスパートがご要望をお伺いした上で、ご希望の SPM/AFM システムに inVia を統合する最善の方法をご提案いたします。弊社までお問い合わせ頂ければ、この技術でナノスケール測定への理解を深めて頂けるはずです。

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SPM/AFM の最新ユーザー事例

米国陸軍研究所がラマンと AFM を統合使用

米国メリーランド州にある米国陸軍研究所(ARL)は、レニショー inVia 共焦点ラマンマイクロスコープと Bruker Dimension Icon 原子間力顕微鏡(AFM)で構成されるハイブリッド装置を使用して、電気化学エネルギー貯蔵材を研究しています。

Bruker の Dimension Icon AFM に接続されたレニショーの inVia 共焦点ラマンマイクロスコープ

16 年以上にわたる提供経験を備えるレニショーは、ラマン/AFM の複合ソリューションをリードするサプライヤーです。このシリーズは、最近 Bruker の Dimension Icon AFM をサポートするようになりました。このペアリングは、レニショーの inVia 共焦点ラマンマイクロスコープの優れた柔軟性と、各種分析用装置との高いインターフェース能力を表しています。