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複合型/ハイブリッドシステム関連資料

ダウンロード: ラマン-SPM/AFM

ダウンロード: SEM-ラマンシステム

  • プロダクトノート:  同位置分析用 SEM-ラマンイメージングシス テム プロダクトノート: 同位置分析用 SEM-ラマンイメージングシス テム

    レニショーの SEM-ラマンシステムは唯一無二のシステムで、サンプルの同じ領域から SEM(走査型電子顕微鏡)データとラマンデ ータを同時に取得できます。そのため、サンプルを他の場所に移したり装置間で移動する必要がなく、短時間で比較分析を行えます。 また、サンプルを別の場所に移動した場合に発生するサンプルの位置合わせという問題を回避することができます。

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  • Product note:  SCA - diamond composite analysis Product note: SCA - diamond composite analysis [en]

    Renishaw’s structural and chemical analyser unites two well-established technologies, scanning electron microscopy (SEM) and Raman spectroscopy, resulting in a powerful new technique which allows morphological, elemental, chemical, physical, and electronic analysis without moving the sample between instruments.

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  • Application note:  A study of single-wall carbon nanotubes using Renishaw's structural and chemical analyser for scanning electron microscopy Application note: A study of single-wall carbon nanotubes using Renishaw's structural and chemical analyser for scanning electron microscopy [en]

    Electron imaging and Raman spectroscopy are established techniques for viewing and analysing carbon nanotubes. Performing these two techniques usually requires the sample being transferred between a scanning electron microscope (SEM) and a Raman spectrometer. This application note illustrates the advantages of Renishaw’s structural and chemical analyser (SCA) for simultaneous secondary electron imaging and Raman spectroscopy of single-wall carbon nanotubes (SWNTs).

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  • Application note:  SCA oxidation application note - cultural heritage Application note: SCA oxidation application note - cultural heritage [en]

    SEM-SCA analysis helps in the preservation of a corroding bronze statue of the Roman god Ares from the ancient city of Zeugma in Turkey.

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ダウンロード: ナノインデンテーション

  • アプリケーションノート:  インデンテーションとラマン分光法の統合 アプリケーションノート: インデンテーションとラマン分光法の統合

    ナノインデンテーション測定に inVia™ の機能を応用し、機械特性およびトライボロジー特性と、結晶化度、結晶多形性、位相、応力/歪 みなどの化学情報を直接相関させます。ラマン分光は、物質の組成、均一性、歪み、応力、秩序の乱れを調べるために広く使われている高機能な技術です。しかし、物理特性、機械特性、トライボロジー特性を直接評価できるわけではありません。レニショーと Hysitron 社は、inVia コンフォーカルラマンマイクロスコープと TI 950 TriboIndenter を組み合わせることで、包括的な 化学解析と機械特性を直接 in situ で相関測定するシステムを開発しました。

  • News release:  Combined Raman spectroscopy and nanoindentation assessment of complex materials News release: Combined Raman spectroscopy and nanoindentation assessment of complex materials [en]

    An article in the July/August 2016 issue of Microscopy and Analysis presents a new system that physically couples a Raman spectroscopy system with a nanoindenter on a shared stage that uniquely enables combined assessment of materials with submicrometre spatial resolution at single sites or spanning millimetre-sized regions.

アプリケーション例

レニショーでは、次のような各種アプリケーション例を作成しています。

詳細については、下のボタンからレニショーまでお問い合わせください。その際、目的の文書の参照番号をお伝えください。

文書の参照番号文書の説明
AS024

神経膠腫細胞の AFM および 3D ラマンイメージ

原子間力顕微鏡 (AFM) イメージと inVia 3D ラマンイメージにより神経膠腫細胞の組成に関する詳細情報を解明します。ナノメートル単位の空間分解能を備えた AFM 構造イメージからは、胞内構造を明確に特定できますが、化学的組成はわかりません。しかし、AFM 構造イメージを 3D ラマンイメージの追加化学情報と比較して相関関係を調べることで、細胞に関するより深い知識が得られるようになります。

AS027

チップ増強ラマン分光測定によるグラフェンのサブ回折限界特性の確認

inVia を AFM と併用してチップ増強ラマン分光測定 (TERS) を行うことで、グラフェンに関する非常に詳細な情報を解明できます。TERS は特殊なプラズモンチップを使用して局所電界を増加することで、ラマンの強度を増強する。

AS028

クジャク石の緑色単層の TERS

inVia と TERS で小さなサンプルボリュームと弱いラマン散乱を分析します。チップ増強ラマン分光測定 (TERS) は特殊なプラズモンチップを使用して電界を増加することで、ラマンの強度を増強します。このチップは直径が 10nm~100nm の単位の非常に小さなもので、走査型プローブ顕微鏡 (SPM) か原子間力顕微鏡 (AFM) を使用してサンプルと接触した状態に維持されます。