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複合型/ハイブリッドラマンシステム

inVia に各種メーカーの他の分析システムを連結することで、inVia の分析能力は増大します。

装置間でサンプルを移動することなく、2 つ以上の技術で分析を行うことにより、効率を高められます。また、レニショーの相関性顕微システムを使用することで、両方の技術で同時に同じ位置を分析できます。

SPM/AFM:ナノメートルの分解能

inVia に、AFM(原子間力顕微鏡)などの走査型プローブ顕微鏡(SPM)を統合することで、物質の構造および化学特性を調べることができます。更に、TERS によりナノメートル単位の化学的分解能を追加し、力学的特性などの補足情報を明らかにすることができます。

SEM:高倍率イメージと元素分析

レニショーのラマン SEM-SCA インターフェースにより、inVia のラマン分析能力を SEM(走査型電子顕微鏡)で活用することができます。更に、SEM を使用すると、サンプルの高解像度イメージを記録して、X 線を使用した元素分析を行うことができます。また、ラマン分析能力を活用することで、化学量論組成が同じ場合でも、材料と非金属化合物を特定できます。

ナノインデンテーション: 機械特定の測定

ラマンの in situ 測定の包括的な化学解析により、くぼみから直接機械特性を相関測定します。

CLSM:共焦点イメージ

複雑な 3D 構造(生体細胞など)を持つサンプルの場合、inVia に共焦点レーザー走査型顕微鏡(CLSM)を追加することで、共焦点蛍光イメージとラマンケミカルイメージを相関させることができます。

複合化でパワーアップ

相関性イメージング技術により、他の方法では見えなかった特異な情報を取得できます。inVia に他の分析システムを連結できるかについては、弊社までお問い合わせください。

詳細について

『Microscopy and Analysis』誌の記事をご覧ください。

下記の記事は、2015 年 4 月に発行され、Microscopy and Analysis Journal/Wiley のご厚意により許可を得て複製されたものです。

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