ナビゲーションのスキップ

ケーススタディ: 最先端のエネルギー研究の最前線で使用されているレニショー inVia コンフォーカルラマンマイクロスコープ

2021 年 12 月 1 日

フランスのグルノーブルにある Laboratory of Electrochemistry and Physical-Chemistry of Materials and Interfaces (LEPMI) は、電気化学的発電器と水素製造、戦略的な材料および腐食のリサイクル工程の開発における最先端研究に不可欠な要素としてラマン分光を使用しています。

ラマン技術はかつて、感度が悪い上に露光時間が長く、無用の蛍光と無駄なレーザー加熱を生じることで知られていました。しかし、光学、検出器、および設計における技術革新によってこの 20 年で装置の集積密度が向上し、小型化が進んだため、利用できるレーザー波長が増え、測定速度が上がり、サブミクロンの空間分解能が向上して、汎用性が高まりました。
LEPMI のロゴ

「ラマン分光装置を選択するに当たっては、感度とスペクトル分解能との間の妥協点を見出すのが通例です。しかし、レニショーの inViaTM コンフォーカルラマンマイクロスコープは私たちの要件を満たす構成でした。レーザーの強度は、研究を迅速に進めるのに理想的であり、熱的および機械的研究中に起こる小さなピーク変位や小さなピークの広がり、そしてピークの割れを検出するのに必要なスペクトル分解能も最適だったのです。加えて、inVia のラインフォーカス測定により、熱に弱い材料を研究でき、1 回の処理で空間的に平均化されたデータが得られます。炭素材料上にグラフト化された単層および大気腐食層を、ダイヤモンドナノ粒子を安全に分析できるラインフォーカス測定を用いて検出するこのマイクロスコープは、当研究所が見つけた市場唯一の分光器です」 特に薄膜、ナノ粒子、大気腐食層を分析する際に、集束レーザービーム照射下で生じる無駄な試料加熱が依然として問題となる場合がありますが、ここで inVia のラインフォーカス測定の強みが発揮されます。取得時間を短く保ちながら、スペクトル上の熱アーチファクトを回避し、試料ステージにおける出力密度を大幅に低減できるのです。inVia の制御ソフトウェアは、万能で非常に用途が広いことに加え、顧客に対するサービスとサポートも抜群です」(Michel Mermoux、LEPMI の Research Director)

inVia は、微妙な差異のある細かい情報を取得できるため、温度、電極、照明など、異なる刺激下での物質の挙動や進化を分析できます。LEPMI では、レニショーの inVia コンフォーカルマイクロスコープを普段から使用して、リチウムイオン電池で使用される半導性材料、カーボン材料、酸化物、電解質といった無機および有機材料をマイクロメートルレベルで分析し、理解しています。

LEPMI における技術革新および研究の詳細については、https://lepmi.grenoble-inp.fr を参照してください。

特集記事:  特集記事:  特集記事: 特集記事: レニショーのラマン分光に関する記事と参考資料の画像

参考資料

ラマン分光に関するさまざまな記事、ケーススタディ、ニュースを用意しています。

記事を読む

inVia Inspect ラマンマイクロスコープ

inVia マイクロスコープについて

inVia コンフォーカルマイクロスコープの適性についての詳細情報

詳細について