 | X-Y（平面鏡）システム
仕様
真空以外の環境でのアプリケーションには、環境の変化が起こった場合においても精度を維持できるよう、何らかの方法で屈折率補正を行う必要があります。レニショーでは、これらの変化に対して補正を行うために、RCU10 リアルタイム環境補正システムを用意しています。 RLE システムと RPI20 パラレルインターフェースを組み合わせることによって、分解能を 38.6 ピコメートルにまで高めることができます。このインターフェースは、ディファレンシャルのアナログ信号 1 Vpp Sin/Cos を受信し、パラレルフォーマットで出力を行います。RCU10 補正システム、RLE システムと HS10 長距離レーザースケールに使用できる RPI20 などの補助装置については、アクセサリを参照してください。 文書とダウンロード
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X-Y（平面鏡）RLE システムは、2 軸構成の RLU レーザーユニットと 2 つのディテクターヘッドで構成されます（ターゲット光学部品として平面鏡を使用するように設定）。レーザーユニットは操作環境に応じて選択していただきますが、RLU20 は、特に真空環境や空調管理された環境でのアプリケーションに適しています。RLU10 レーザーユニットは RLE10 システムに使用し、RLU20 レーザーユニットは RLE20 システムに使用します。