FASTRACK™ 光学式リニアエンコーダの性能の利点

硬化ステンレススチールの頑丈さ

簡単な取り付けにより、短時間でスケールを配置。

高精度と優れたモーションコントロール性能。

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FASTRACKRESOLUTE™ および TONiC™ と併用した場合には、硬化ステンレススチール製による頑丈さ、短時間での取り付け、作業スペースが制限されている場合でも簡単便利なスケールの取り外し/交換といった利点に加えて、実用的な性能上の利点も得ることができます。

高精度リニアエンコーダ

FASTRACK­™ リニアエンコーダスケールの平均精度グラフ レニショーの先進の目盛プロセスにより、FASTRACKにより、RTLC と RTLA スケールでは、補正を行わなくても、±5μm/m の指定精度が得られます。さらに優れているのは、実際の精度結果が平均 ±2 µm/m に近く、主要性能基準において競合会社よりも大幅に優れたレベルを実現しています。加えて、レニショーの XL-80 レーザー計測システムを使用したシンプルな 2 点補正により、リニアリティを厳密に制御して、非常に高い精度を得ることができます。

ここに示したグラフは、補正を行わない RTLC とFASTRACK の平均精度結果を示しています。

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測定の利点

FASTRACK™ リニアエンコーダシステムの平均ヒステリシスグラフFASTRACK は、独自の設計により、非常に負荷が高い場合でもスケールを確実に固定しながら、2 つのコンポーネント間の抵抗を最低限に押さえ、定義された膨張係数に近い値でスケールが自由に伸び縮みするようにします。そのため、ヒステリシスも最低限に抑えられており、アルミニウムの機材にセンタークランプで配された 2m の軸の場合、全動作温度範囲においてヒステリシスを 1µm 未満に維持します。

もう一つのFASTRACK 独自の測定上の利点として挙げられるのは、スケールを歪ませることなく 1 点で機材に固定するクランプ方法です。これは、従来のトラック式エンコーダに使用されるクランプと比べると、大きな改良点です。これにより、システムメーカーは、固定位置での精度に影響を与えることなく、機械上で理想的な位置にスケールを固定することができます。これは、高精度軸のセンタークランプには特に重要な特長です。

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モーションコントロール性能を改善

FASTRACK™ リニアエンコーダスケールに TONiC™ インクリメンタルエンコーダを使用した場合の平均ジッタグラフ TONiC リードヘッドは、レニショー独自の新世代のオプティカルフィルター機構を備え、ノイズ(内部ジッタ)をさらに低減するように調整されているだけでなく、オートゲインコントロールとオートオフセットコントロールなどのダイナミック信号処理によってさらなる改良が加えられています。この結果、低いサブディビジョナルエラー(SDE)によりスムーズな速度制御が可能になり、高いスキャニング性能と位置決めの安定性が得られます。TONiC の 1nm バージョンには、更にノイズ低減機能が追加されており、0.5nm RMS という驚異的なジッタレベルを実現します。

RESOLUTE™ アブソリュートエンコーダの平均サブディビジョナルエラーグラフ RESOLUTEの優れた性能は、最先端の信頼性が高く、全く独自な動作方法によるものです。RESOLUTE は、繰返しのない長いバーコードで構成されるスケールの写真を撮る超高速ミニチュアデジタルカメラと考えることができます。RESOLUTE は、これらの写真を解析して、1nm (10 億分の1メートル)の解像度と、非常に低いノイズ(ジッタ)と SDE(サブディビジョナルエラー、スケール格子周期内のエラー)で位置を判断します。これにより、優れた信頼性のエンコーダフィードバックが提供され、スムーズな速度制御と確実な位置決め安定性が得られます。

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究極の耐久性

FASTRACK は、特にスケールを損傷させる危険性を持つアプリケーション向けに設計されています。FASTRACK とスケールは、硬化ステンレススチール製で、ガラスやツールの落下をはじめとする偶発的な衝撃による損傷を受けることがありません。たとえ損傷があった場合でも、高度な光学部品と汚れに対する高い耐久性を備えることから、ほとんどの場合、信号レベルにほとんど影響が及ぶことがありません。

引き続き FASTRACK の取り付けの詳細をご覧ください

FASTRACK™ リニアエンコーダシステムの平均ヒステリシスグラフ

このグラフは、 FASTRACK の機材と温度範囲に対する取り付けのヒステリシスの確認ために使用してください。x 軸は、「相対膨張」、つまり、機材の膨張とスケールの膨張の差を示します。y 軸は、スケール上での機材膨張の抗力により発生したヒステリシスを示します。このグラフを使用するには、最初に次の式を使用して相対膨張を算出します。

相対膨張 = (機材の膨張係数 - スケールの膨張係数) × 温度変化

次に、スケールの「自由長」、つまりスケールの端とクランプ位置間の長さに最も合うラインを y 軸上で探します。

例: 2m の軸がセンタークランプで花崗岩の機材に取り付けられ、温度範囲が 20℃の場合。

相対膨張 = (8 µm/m/°C – 10.6 µm/m/°C) x 20 = 52 µm/m

52µm/m の相対膨張では、1m の自由長のラインは 0.426µm になります。従って、この状況におけるヒステリシスは、0.426µm になります。

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