位置決め(反射鏡)システム

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RLD retroreflector, single axis application 位置決め用の RLE システムは、RLU レーザーユニットと(通常)ターゲット光学部品として反射鏡を使用するように設計された RLD10 ディテクターヘッドで構成されます。 レーザーユニットは操作環境に応じて選択しますが、RLU20 は、特に真空環境や空調管理された環境でのアプリケーションに適しています。 RLU10 レーザーユニットは RLE10 システムに使用し、RLU20 レーザーユニットは RLE20 システムに使用します。

ディテクターヘッドは、ビーム出力方向が 0°のものと 90°のものをご用意しています。

位置決めソリューションとして、ターゲット光学部品に平面鏡を使用するディテクターヘッドも使用できます。 これにより出力分解能は向上しますが、計測軸長は 1m までに短縮してしまいます。

仕様

データ形式 デジタル - RS422 矩形波
アナログ - 1 Vpp Sin / Cos
分解能 デジタル - 20nm までユーザーが選択可能(反射鏡ターゲット光学部品使用時)
アナログ - 外付けインターポレイターによりサブナノメーターの分解能を実現 (RPI20 パラレルインターフェースなど)
最大追従速度 2m/s(ターゲット光学部品として反射鏡を使用した場合)
使用レーザー光源 HeNe(ヘリウムネオン)、常温常圧時の波長 632.8 nm、クラス II
レーザー周波数安定度 1 時間で ±50 ppb (RLU10)
1 時間で ±2 ppb (RLU20)
レーザー寿命 50,000 時間以上
最大軸長 4m(ターゲット光学部品として反射鏡を使用した場合)

真空以外の環境でのアプリケーションには、環境の変化が起こった場合においても精度を維持できるよう、何らかの方法で屈折率補正を行う必要があります。 レニショーでは、これらの変化に対して補正を行うために、RCU10 リアルタイム環境補正システムを用意しています。

RLE システムと RPI20 パラレルインターフェースを組み合わせることによって、分解能を 38.6 ピコメートルにまで高めることができます(平面鏡システム構成)。 高分解能のデジタル出力を得るには、レニショーのREEシリーズのインターポレータを使用することで、最高 0.395 nm の分解能を得ることができます(平面鏡システム構成)。 このインターフェースは、ディファレンシャルのアナログ信号 1 Vpp Sin/Cos を受信し、パラレルフォーマットで出力を行います。 RLE システムに使用できる RCU10 補正システム、RPI20、REE およびその他の補助装置については、アクセサリを参照してください。

お問い合わせ

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