NT-MDT および Nanonics Imaging Ltd 社製のスキャナを搭載した完全統合システムを提供できるのは、レニショーだけです。 レニショーの AFM ラマンシステムは、次のメリットを備えています。
レニショーラマン SPM システムの効果
AFM とラマン
高空間分解能のスキャニングプローブデータと、ファーフィールド分解能(通常サブミクロン単位の分解能)の高速ラマン分光データの両方を取得できます。 これにより、正確な表面形状測定と、AFMプローブのフィードバック機能により高空間分解能なラマンマッピング測定(標準分解能:0.5µm)が可能になります。
グラフェンサンプルのラマン分析(右の画像を参照)では、単層と二層領域を含む、グラフェンの 5 種類の厚さが示されています。 SPM 測定のガイドとしてラマンデータを使用することで、対象領域の特徴、キャパシタンス、伝導測定が可能になります。
TERS(Tip Enhanced Raman Spectroscopy)
AFMプローブの先端に金属粒子を着けてサンプル表面にコンタクトすると、表面増強ラマン効果(SERS)により、極微細点(φ100nm以下)の増強ラマン測定が可能。 この構成では、ラマン技術による最高空間分解能が得られます。
TERS が備える優れた高空間分解能と高感度は、層状のサンプルを測定した場合に明らかにないrます。 右に示した図は、SiGe 上の薄いシリコン層の近接上(TERS)とファーフィールドを比較したものです。 TERS の優れた表面測定感度により、より明確なシリコンラマンバンドを取得できます(バルクの SiGe ラマンバンドよりも低いラマン周波数において)。
レニショーでは、ナノスケールでの測定、または inVia ラマンマイクロスコープと SPM または AFM モデルの統合についてご説明しますので、オンラインリクエストフォームに必要事項をご記入の上お送りいただくか、日本のラマン担当者までお問い合わせください。